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蓝光智能精研光学集成方案,以硬核技术化解FAU量产难题
来源:咸宁日报 时间:2026-07-14 进入论坛 查看数字报

在高速光模块规模化量产过程中,FAU端面破损、装配芯片碰撞、高低温环境耦合掉值,是行业普遍存在的核心生产难题,容易造成产品良率下滑、返修成本增加、交付周期延长等问题。基于终端客户量产实际需求,蓝光智能依托多年光学器件研发积淀,打造FA-Lens  Array(FLA)一体化集成方案,针对性解决各类FAU应用痛点。



FAU端面易破损、装配易碰撞芯片,该如何有效解决?

针对高速光模块封装过程中常见的FAU端面磕碰、芯片碰撞问题,蓝光智能从材料结构与工艺设计层面给出系统化解决方案。

蓝光智能FAU一体化组件采用一体模塑成型工艺,摒弃传统分立器件二次装配模式,从结构层面减少器件接触、磕碰风险,有效规避端面破损问题。产品还采用了高韧性PEI光学材质,相较于常规材料抗损性能更加优异。

同时,蓝光智能FAU方案设计BFL>200μm超大工作距离,在芯片与光学组件之间预留充足安全间隙,从物理层面杜绝芯片碰撞隐患。该方案光学性能稳定,插入损耗IL<0.5dB,回波损耗RL<-43dB/-60dB,符合高速光模块行业标准,在保障光学传输性能的同时,全面提升器件使用安全性,适配800G、1.6T高速光模块量产场景。



高低温工况下FAU耦合掉值、性能不稳,如何改善优化?

数据中心工况环境复杂,温度波动易导致FAU耦合偏移、信号掉值,影响光模块长期运行稳定性,是客户重点关注的使用难题。

针对高低温稳定性难题,蓝光智能FAU一体化方案优化光学结构参数,打造12-16μm超宽耦合平坦区,搭配超宽耦合容限与平面度容限,大幅提升器件温变适配能力,在高低温交替环境中可保持耦合状态稳定,杜绝信号掉值问题。

产品全程按照GR-468-CORE工业级可靠性标准研发测试,适配严苛的数据中心运行环境。同时内嵌式结构设计降低器件对生产洁净度的依赖,减少脏污带来的性能波动,全方位保障FAU批量应用的一致性与稳定性。蓝光智能完备的全维度检测体系,可实现器件全温段性能核验,保障批量产品品质统一。



解决FAU性能痛点的同时,如何兼顾量产效率与稳定交付?

在量产效率层面,蓝光智能FAU方案优化耦合工序,将COB耦合固化时长缩短至40秒左右,适配自动化、半自动化产线生产,单人单班产能可达500件,大幅提升生产效率,助力客户降本增效。

在产能交付层面,蓝光智能推进产能扩容,当前FAU产品月产能达10万只,规划2026年9月扩容至20万只/月,年底冲刺50万只/月,可持续匹配客户增量订单需求。同时蓝光智能秉持开放共赢理念,与多家FA行业厂商达成战略合作,互补协同完善产业生态,为客户提供多元化、高适配的光学器件配套服务。



蓝光智能FLA一体化方案从物理防护、温稳性能、量产落地三大维度,系统性解决FAU量产与应用核心痛点,以成熟的技术、稳定的产能、严苛的品控,为高速光通信产业高质量量产保驾护航。




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